校级开放共享平台2台设备通过验收

      1月14日上午，实验室与设备管理处组织专家对我校公共分析测试中心新购置的2台设备（场发射扫描电子显微镜、扫描探针显微镜）进行了验收。这两台设备，是根据学校的前期调研和论证，使用“中央高校改善基本办学条件专项”经费购置的，是对校级开放共享平台大型仪器设备的补充和完善，将进一步促进我校科研实力的提升。

        在验收现场，设备使用人员对设备的技术指标、功能及用途等方面进行了讲解，厂家技术人员对验收的标样测试结果进行了展示。专家组成员对设备的验收情况进行了评议，并与相关人员进行了深入交流，最后一致认为设备符合要求，同意通过验收。

      场发射扫描电子显微镜    HITACHI    SU8010

      功能及用途:利用电子束照射样品激发出二次电子和背散射电子，分别利用二次电子探头和背散射电子探头扑捉这些电子，得到数字化图像，从而从纳米尺度对样品进行微区表面形貌观察和成分分析。主要用于分析观察物质微观表面高分辨形貌结构，如对木材、天然橡胶、植物原生质、植物组织、原生动物、藻类、线虫、细菌等样品进行纳米尺度微细结构观察和分析。电镜主机配有IXRF能谱仪附件，可以定性和半定量分析样品元素组成，是直接表征和测量微观器件的重要手段和主要工具。现被广泛应用于生物学、农林及材料科学等各种领域。

      扫描探针显微镜      Bruker    MultiMode  8

      功能及用途:根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像，间接获得样品表面的形貌或原子成分，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。主要用于观测样品表面微区(纳米及微米尺度)三维形貌，对样品表面物理化学特性进行研究，用来测试多种材料如纤维材料、膜材料、生物材料、高分子材料等的多种物性。